 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-19-2011 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-19-2011 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); German version EN 60749-19:2003 + A1:2010 | | Дата опубликования | 01.01.2011 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-19(2003-10) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 8 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-19-2011 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|