 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-10(2011) |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62047-10(2011) | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяющего в части | IEC 62047-10(2011)/Cor.1(2012) | | Дата опубликования | 26.07.2011 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 26 | | ТК – разработчик стандарта | SC 47F | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | C | |
| | Стандарт IEC 62047-10(2011) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
6480,00
|
|
|
|