 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Машинная модель. Изменение 1 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Машинная модель. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM). Amendment 1 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60749-27(2006) | | Дата опубликования | 25.09.2012 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 10 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Действует | | Код цены | A | |
| | Стандарт IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1872,00
|
|
|
|