 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 51456-2013 |  на печать | | Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Анализ поверхности кремниевых пластин посредством мультиэлементного определения в водных анализируемых растворах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 51456-2013 | | Заглавие на русском языке | Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Анализ поверхности кремниевых пластин посредством мультиэлементного определения в водных анализируемых растворах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS) | | Дата опубликования | 01.10.2013 | | МКС | 31.200 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 51456(2012-10) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 15 | | Перекрестные ссылки | DIN 32645(2008-11)*DIN 50451-5(2010-03)*DIN 51002-1(2004-11)*DIN 51401(2010-07)*DIN ISO 5725-2(2002-12) | | Код цены | Preisgruppe 10 | |
| | Стандарт DIN 51456-2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|