 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 13424:2013 |  на печать | | Поверхностный химический анализ. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность по результатам тонкопленочного анализа |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 13424:2013 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность по результатам тонкопленочного анализа | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Reporting of results of thin-film analysis | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 23.09.2013 | | Количество страниц оригинала | 54 | | Код цены | F | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 13424:2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
33134,00
|
|
|
|