|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 11952:2014 | на печать | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических размеров с использованием SPM. Калибровка измерительных систем |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 11952:2014 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических размеров с использованием SPM. Калибровка измерительных систем | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems | Дата отмены | 21.05.2019 00:00:00 | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | Обозначение заменяющего | ISO 11952:2019 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 9 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 12.05.2014 | Количество страниц оригинала | 66 | Код цены | G | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 11952:2014 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|