 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01 | на печать | | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра |
|
|  | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.10.2008 | | Язык оригинала | немецкий |  |
|  | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-37:2008 10 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
|  |
|
 |
 |
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|