 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (english version) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.08.2011 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|