 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-38:2008 12 01 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-38:2008 12 01 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.12.2008 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-38:2008 12 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|