 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-8:2004 01 01 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-8:2004 01 01 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr.1:2003 + Corr.2:2003) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.01.2004 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-8:2004 01 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|