 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749+A1+A2:2002 11 01 |  на печать | | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60749+A1+A2:2002 11 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.11.2002 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749+A1+A2:2002 11 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|