 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
|
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
| | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (IEC 62047-12:2011) (german version) | | Код МКС | 31.080.99 | | Дата опубликования | 01.08.2012 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62047-12:2012 08 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|