 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62047-2:2007 03 01 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 2. Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62047-2:2007 03 01 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 2. Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006) | | Код МКС | 31.080.99 | | Дата опубликования | 01.03.2007 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62047-2:2007 03 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|