 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-19:2011 03 01 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-19:2011 03 01 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010) (english version) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.03.2011 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-19:2011 03 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|