 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 |  на печать | | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 | | Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры | | Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006) | | Код МКС | 31.080.30 | | Дата опубликования | 01.03.2007 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 62373:2007 03 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|