 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-21-2015 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-21-2015 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials (IEC 62047-21:2014); German version EN 62047-21:2014 | | Дата опубликования | 01.04.2015 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 62047-21(2012-11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 16 | | Перекрестные ссылки | ASTM E 132(2004)*IEC 62047-8(2011-03) | | Код цены | Preisgruppe 13 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-21-2015 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|