 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62047-21:2015 06 01 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 62047-21:2015 06 01 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson`s ratio of thin film MEMS materials (IEC 62047-21:2014) (english version) | | Код МКС | 31.080.99 31.080.01 31.220.01 | | Дата опубликования | 01.06.2015 | | Язык оригинала | английский | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|