|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19830:2015 | на печать | Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 19830:2015 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 05.11.2015 | Количество страниц оригинала | 30 | Код цены | D | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19830:2015 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
22446,00
|
|
|