 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19830:2015 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 19830:2015 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 05.11.2015 | | Количество страниц оригинала | 30 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19830:2015 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
24710,00
|
|
|
|