 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-26(2016) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62047-26(2016) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 07.01.2016 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 62 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | G | |
| | Стандарт IEC 62047-26(2016) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
32400,00
|
|
|
|