 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50443-2-1994 |  на печать | | Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50443-2-1994 | | Заглавие на русском языке | Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds | | Дата опубликования | 01.06.1994 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50443-2(1992-03) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 7 | | Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50433-3(1982-04)*DIN 50434(1986-02)*DIN 50443-1(1988-07) | | Код цены | Preisgruppe 7 | |
| | Стандарт DIN 50443-2-1994 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|