 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50443-1-1988 |  на печать | | Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50443-1-1988 | | Заглавие на русском языке | Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography | | Дата опубликования | 01.07.1988 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50443(1986-11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 10 | | Количество страниц перевода | 27 | | Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50433-2(1976-12)*DIN 50433-3(1982-04)*DIN 50434(1986-02) | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN 50443-1-1988 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|