 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-18-2014 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-18-2014 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013); German version EN 62047-18:2013 | | Дата опубликования | 01.04.2014 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 62047-18(2011-06) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 15 | | Перекрестные ссылки | IEC 62047-6(2009-04) | | Код цены | Preisgruppe 13 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-18-2014 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|