 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50455-1-1991 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Определение толщины покрытия оптическими методами |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50455-1-1991 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Определение толщины покрытия оптическими методами | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; methods for characterizing photoresists; determination of coating thickness with optical methods | | Дата опубликования | 01.06.1991 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50455-1(1990-04) | | Обозначение заменяющего | DIN 50455-1(2009-10) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 3 | | Перекрестные ссылки | VDI 2083 Blatt 3(1983-02) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50455-1-1991 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|