 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50455-1-2009 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50455-1-2009 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods | | Дата опубликования | 01.10.2009 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50455-1(1991-06) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 8 | | Перекрестные ссылки | DIN EN ISO 14644-1(1999-07) | | Код цены | Preisgruppe 6 | |
| | Стандарт DIN 50455-1-2009 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|