 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50447-1995 | на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение электрического поверхностного сопротивления полупроводниковых слоев методом вихревых токов |
|
|  | Библиография | Обозначение | DIN 50447-1995 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение электрического поверхностного сопротивления полупроводниковых слоев методом вихревых токов | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method | | Дата опубликования | 01.04.1995 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50447(1994-04) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | DIN 50445(1992-04)*ASTM F 673(1990) | | Код цены | Preisgruppe 5 |  |
|  | Стандарт DIN 50447-1995 входит в рубрики классификатора:
| | |
|  |
|
 |
 |
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|