 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50441-3-1985 |  на печать | | Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Определение отклонения от плоскостности полированных пластин методом многолучевой интерференции |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50441-3-1985 | | Заглавие на русском языке | Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Определение отклонения от плоскостности полированных пластин методом многолучевой интерференции | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; determination of flatness deviation of polished slices by means of the multiple beam interference | | Дата опубликования | 01.09.1985 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50441-3(1984-05) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 5 | | Количество страниц перевода | 12 | | Перекрестные ссылки | DIN 50441-2(1982-04)*SEMI M1-83*US Federal Standard 209 | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50441-3-1985 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|