 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-38-2008 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-38-2008 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008 | | Дата опубликования | 01.10.2008 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 14 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 9 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-38-2008 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|