 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-26-2016 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-26-2016 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 26. Методы описания и измерения микрощелевых и игольчатых структур | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures (IEC 62047-26:2016); German version EN 62047-26:2016 | | Дата опубликования | 01.12.2016 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 62047-26(2014-05) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 29 | | Перекрестные ссылки | ISO/IEC Guide 98-3(2008-09)*ISO 129-1(2004-09)*ISO 3274(1996-12) | | Код цены | Preisgruppe 17 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-26-2016 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|