 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-4(2017) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Резко ускоренное стрессовое испытание (HAST) под воздействием влажного тепла в стационарном режиме |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-4(2017) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Резко ускоренное стрессовое испытание (HAST) под воздействием влажного тепла в стационарном режиме | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-4(2002), IEC 60749-4(2002)/Cor.1(2003) | | Дата опубликования | 03.03.2017 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 14 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Действует | | Код цены | C | |
| | Стандарт IEC 60749-4(2017) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
7488,00
|
|
|
|