 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62951-1(2017) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб тонких проводящих пленок на гибких подложках |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62951-1(2017) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб тонких проводящих пленок на гибких подложках | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 10.04.2017 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 20 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 62951-1(2017) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
14976,00
|
|
|
|