 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TR 21477:2017 |  на печать | | Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Параметры и системы измерения дефектов поверхности |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO/TR 21477:2017 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Параметры и системы измерения дефектов поверхности | | Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Preparation of drawings for optical elements and systems -- Surface imperfection specification and measurement systems | | Код КС (ОКС, МКС) | 37.020 | | ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 1 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 16.08.2017 | | Количество страниц оригинала | 12 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO/TR 21477:2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
8050,00
|
|
|
|