 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62880-1(2017) | на печать | Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 62880-1(2017) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 23.08.2017 | Язык оригинала | английский | Количество страниц оригинала | 28 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | F |  |
|  | Стандарт IEC 62880-1(2017) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
29016,00
|
|
|