 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62880-1(2017) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62880-1(2017) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Стандарт на определение миграции, вызванной напряжениями. Часть 1. Стандарт на определение миграции меди, вызванной напряжениями | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 23.08.2017 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 28 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC 62880-1(2017) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|