 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/TR 63133(2017) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/TR 63133(2017) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Оценка уровня старения полупроводниковых приборов, основанная на сканировании | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 11.10.2017 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 22 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC/TR 63133(2017) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18630,00
|
|
|
|