 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20263:2017 |  на печать | | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 20263:2017 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела в изображении поперечного сечения слоистых материалов | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | | Дата отмены | 06.11.2024 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50; 37.020 | | Обозначение заменяющего | ISO 20263:2024 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.12.2017 | | Количество страниц оригинала | 52 | | Код цены | F | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 20263:2017 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|