 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20411:2018 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 20411:2018 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 09.03.2018 | | Количество страниц оригинала | 22 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 20411:2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
15876,00
|
|
|
|