 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63150-1(2019) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 63150-1(2019) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations | МКС | 31.080.99 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 10.05.2019 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 74 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | H |  |
|  | Стандарт IEC 63150-1(2019) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
46800,00
|
|
|