 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63150-1(2019) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 63150-1(2019) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы измерения и оценки приборов, аккумулирующих кинетическую энергию, в практических условиях воздействия вибраций. Часть 1. Произвольная и случайная механическая вибрация | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 10.05.2019 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 74 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | H | |
| | Стандарт IEC 63150-1(2019) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
40500,00
|
|
|
|