 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-35(2019) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62047-35(2019) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 22.11.2019 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 41 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC 62047-35(2019) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|