 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 16413:2020 |  на печать | | Оценка толщины, плотности и ширины поверхности раздела тонких пленок с помощью рентгеновской рефлектометрии. Инструментальные требования, выравнивание и позиционирование, сбор, анализ и представление данных |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 16413:2020 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Оценка толщины, плотности и ширины поверхности раздела тонких пленок с помощью рентгеновской рефлектометрии. Инструментальные требования, выравнивание и позиционирование, сбор, анализ и представление данных | | Заглавие на английском языке | Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting | | Код КС (ОКС, МКС) | 35.240.70; 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 16413:2013 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 14.08.2020 | | Количество страниц оригинала | 40 | | Код цены | E | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 16413:2020 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|