 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/TR 63258(2021) |  на печать | | Нанотехнологии. Руководство по применению эллипсометрии для оценки толщины наноразмерных пленок |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/TR 63258(2021) | | Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Руководство по применению эллипсометрии для оценки толщины наноразмерных пленок | | Заглавие на английском языке | Nanotechnologies - A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films | | МКС | 07.120 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 19.03.2021 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 21 | | ТК – разработчик стандарта | TC 113 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC/TR 63258(2021) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|