 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 18114:2021 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по стандартным образцам с имплантированными ионами |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 18114:2021 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по стандартным образцам с имплантированными ионами | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 18114:2003 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 11.05.2021 | | Количество страниц оригинала | 12 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 18114:2021 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
8050,00
|
|
|
|