 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63287-1(2021) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Общее руководство по оценке надежности полупроводниковых приборов. Часть 1. Руководство по оценке надежности интегральных схем |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 63287-1(2021) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Общее руководство по оценке надежности полупроводниковых приборов. Часть 1. Руководство по оценке надежности интегральных схем | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 25.08.2021 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 86 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | J | |
| | Стандарт IEC 63287-1(2021) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
52416,00
|
|
|
|