 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C 6049(2020 Confirm) | на печать | | Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits |
|
|  | Библиография | Обозначение | KS C 6049(2020 Confirm) | | Заглавие на английском языке | Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits | | Дата опубликования | 1980.11.29 | | Код МКС | 31.080.01 |  |
|  | Стандарт KS C 6049(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
|  |
|
 |
 |
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|