 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-28(2022) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Проверка чувствительности к электростатическому заряду. Модель заряженного устройства. Уровень устройства |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 60749-28(2022) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 28. Проверка чувствительности к электростатическому заряду. Модель заряженного устройства. Уровень устройства | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-28(2017) | Дата опубликования | 01.03.2022 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 98 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 2.0 | Статус | Действует | Код цены | J |  |
|  | Стандарт IEC 60749-28(2022) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
52416,00
|
|
|