 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63284(2022) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность нитридгаллиевых транзисторов путем переключения индуктивной нагрузки |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 63284(2022) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность нитридгаллиевых транзисторов путем переключения индуктивной нагрузки | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors | | МКС | 31.080.30 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 21.04.2022 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 25 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 63284(2022) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
12960,00
|
|
|
|