 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-10(2022) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и подсборка |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-10(2022) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и подсборка | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-10(2002), IEC 60749-10(2002)/Cor.1(2003) | | Дата опубликования | 27.04.2022 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 24 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 60749-10(2022) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
12960,00
|
|
|
|