| Обозначение | ГОСТ Р 59743.2-2022 |
| Полное обозначение | ГОСТ Р 59743.2-2022 (ИСО 14880-2:2006) |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
| Дата введения в действие | 01.03.2023 |
| Дата огр. срока действия | |
| ОКС | 31.260 |
| Код ОКП | |
| Код КГС | |
| Код ОКСТУ | |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз |
| Ключевые слова | оптика и фотоника, матрица микролинз, методы измерений аберраций волнового фронта |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | |
| Вид стандарта | Стандарты на продукцию (услуги) |
| Вид требований | |
| Дескрипторы (английский язык) | |
| Обозначение заменяемого(ых) | |
| Обозначение заменяющего | |
| Обозначение заменяемого в части | |
| Обозначение заменяющего в части | |
| Гармонизирован с: | |
| Аутентичный текст с ISO | |
| Аутентичный текст с IEC | |
| Аутентичный текст с ГОСТ | |
| Аутентичный текст с прочими | |
| Содержит требования: ISO | ISO 14880-2:2006 |
| Содержит требования: IEC | |
| Содержит требования: СЭВ | |
| Содержит требования: ГОСТ | |
| Содержит требования: прочими | |
| Нормативные ссылки на: ISO | |
| Нормативные ссылки на: IEC | |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ Р 8.745;ГОСТ Р 59743.1;ГОСТ Р ИСО 15367-2 |
| Документ внесен организацией СНГ | |
| Нормативные ссылки на: Прочие | |
| Документ принят организацией СНГ | |
| Номер протокола | |
| Дата принятия в МГС | |
| Присоединившиеся страны | |
| Управление Ростехрегулирования | 1 - Управление технического регулирования и стандартизации |
| Технический комитет России | 296 - Оптика и фотоника |
| Разработчик МНД | |
| Межгосударственный ТК | |
| Дата последнего издания | 01.08.2022 |
| Номер(а) изменении(й) | |
| Количество страниц (оригинала) | 28 |
| Организация - Разработчик | Федеральное государственное унитарное предприятие «Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова» (ФГУП «НИИФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова») и Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Университет ИТМО» (Университет ИТМО) |
| Статус | Действует |
| Код цены | 3 |
| На территории РФ пользоваться | |
| Отменен в части | |
| Номер ТК за которым закреплен документ | |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | |
 |