 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/TS 63342(2022) |  на печать | | Модули фотоэлектрические C-Si. Испытание на деградацию, вызванную светом и повышенной температурой (LETID). Обнаружение |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC/TS 63342(2022) | | Заглавие на русском языке | Модули фотоэлектрические C-Si. Испытание на деградацию, вызванную светом и повышенной температурой (LETID). Обнаружение | | Заглавие на английском языке | C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection | | МКС | 27.160 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 20.07.2022 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 13 | | ТК – разработчик стандарта | TC 82 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC/TS 63342(2022) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
12960,00
|
|
|
|