 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17862:2022 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17862:2022 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 17862:2013 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 23.09.2022 | | Количество страниц оригинала | 26 | | Код цены | C | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 17862:2022 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|