 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62951-9(2022) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R) |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62951-9(2022) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Гибкие и эластичные полупроводниковые приборы. Часть 9. Методы определения рабочих характеристик резистивных ячеек памяти на одном транзисторе и одном резисторе (1T1R) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 14.12.2022 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 18 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC 62951-9(2022) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18630,00
|
|
|
|