 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63287-2(2023) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 63287-2(2023) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 29.03.2023 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 63287-2(2023) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
14976,00
|
|
|
|